設備固有誤差：包括儀器的分辨率限制、儀器的非線性誤差、儀器的老化等。
測量重復性：在校準過程中，同一條件下重復測量得到的結果之間的差異。
操作者技能差異：不同操作者在進行相同測量時可能存在的技術差異。
環(huán)境條件變化：如溫度、濕度、氣壓等環(huán)境因素的波動對測量結果的影響。
電源穩(wěn)定性：電源電壓或頻率的波動可能影響儀器的性能。
連接和電纜損耗：測試過程中使用的電纜和連接器可能引入信號損耗或反射。
校準設備誤差：用于校準的參考標準設備本身存在的誤差。
測量方法不確定性：測量方法本身可能存在的理論或實際應用上的不確定性。
信號源穩(wěn)定性：使用的信號源在頻率、幅度或相位上的不穩(wěn)定。
設備設置和配置：設備設置錯誤或配置不當可能導致測量結果偏差。
樣品位置和方向：被測設備在測試環(huán)境中的位置和方向可能影響測量結果。
隨機噪聲和干擾：測試環(huán)境中的隨機噪聲和電磁干擾對測量結果的影響。
校準過程的時間跨度：校準過程可能需要在不同時間點完成，時間跨度可能導致的不確定性。
設備預熱和穩(wěn)定性：設備預熱不充分或在測試過程中的穩(wěn)定性變化。
數據采集和處理誤差：數據采集系統(tǒng)和處理算法可能引入的誤差。
