采樣示波器，也稱為等效時間采樣示波器，其原理和應用如下：

一、原理

1. 等效取樣技術：采樣示波器的根本原理是利用等效取樣技術，將周期性高頻（或高速）信號變換為與原來信號波形相似的低頻（或低速）信號。每個信號周期只取樣一次（或幾次），取樣信號依次地延遲Δt，完成一個取樣周期后，離散信號的包絡反映原信號的波形。這種固定延遲時間有順序的取樣也稱為順序取樣。而當一個周期取幾次樣時，取樣點必須重新排列，也稱為隨機取樣。
2. 采樣定理：采樣示波器基于采樣定理，通過對輸入信號進行采樣和保持，將連續(xù)信號轉換成離散信號，并進行數(shù)字化處理和重建，最后實現(xiàn)波形顯示。其中，采樣和保持單元負責對輸入信號進行采樣和保持，采樣速率決定了示波器的帶寬。
3. 信號處理：采樣示波器具有較高的信號處理能力和靈活性，可以對復雜的信號進行較大程度的處理和分析。同時，由于采樣定理的存在，其帶寬可以達到甚至超過其采樣率的一半，具有較高的頻率響應。

二、應用

1. 測量高速電信號：采樣示波器前級沒有衰減器或放大器電路，專門用于測量高速信號。它具有較高的頻率響應和較寬的帶寬，能夠觀測和分析高頻信號。
2. 測量光信號：采樣示波器可用于光信號的測量，例如通過連接光模塊/光傳輸設備，無需觸發(fā)信號即可進行評估。
3. 阻抗測量：使用TDR（時域反射計）進行阻抗測量，可以直接評估流經(jīng)印刷電路板和連接它們的電纜的數(shù)字信號的質量（信號完整性）。
4. LSI性能測量和分析缺陷：在半導體測試中，采樣示波器可用于測量LSI（大規(guī)模集成電路）性能和分析缺陷。

綜上所述，采樣示波器在電子測量領域具有廣泛的應用前景和重要的研究價值。隨著科學技術的不斷發(fā)展，采樣示波器的性能和功能將進一步提升和完善，為電子測量領域的發(fā)展做出更大的貢獻。