模塊化儀器的自動(dòng)化測(cè)試通過(guò)以下幾個(gè)方面顯著提高效率：

1. 并行處理和并行測(cè)量：

   • 使用多核處理器、PCI Express、現(xiàn)場(chǎng)可編程門陣列(FPGA)以及NILabVIEW軟件等成品工具(COTS)，可以建立并行處理和并行測(cè)量系統(tǒng)，從而能夠在最短的時(shí)間內(nèi)測(cè)試單一被測(cè)單元(UUT)。

2. 標(biāo)準(zhǔn)化與接口設(shè)計(jì)：

   • 對(duì)各個(gè)模塊進(jìn)行標(biāo)準(zhǔn)化設(shè)計(jì)，確保模塊之間的互換性和兼容性，減少因接口問(wèn)題導(dǎo)致的測(cè)試失敗，提高測(cè)試效率。

3. 獨(dú)立設(shè)計(jì)與測(cè)試：

   • 每個(gè)模塊應(yīng)獨(dú)立進(jìn)行設(shè)計(jì)、制造和測(cè)試，確保每個(gè)模塊的性能達(dá)到最優(yōu)，便于后續(xù)的維護(hù)和升級(jí)，減少重復(fù)工作。

4. 自動(dòng)化腳本的并行運(yùn)行：

   • 在多終端同時(shí)運(yùn)行腳本，通過(guò)并行執(zhí)行測(cè)試用例，顯著減少測(cè)試時(shí)間。例如，使用Java的TestNG測(cè)試框架，可以在多個(gè)線程中并行執(zhí)行測(cè)試用例。

5. 可重用性和模塊化硬件平臺(tái)：

   • 基于PXI等靈活的模塊化硬件平臺(tái)，可以在軟件中進(jìn)行重新配置，對(duì)統(tǒng)一產(chǎn)品的多個(gè)版本甚至是多種不同類型的產(chǎn)品進(jìn)行測(cè)試，提高儀器的重用率和測(cè)試系統(tǒng)的壽命。

6. 持續(xù)集成和持續(xù)測(cè)試：

   • 將自動(dòng)化測(cè)試集成到CI/CD流程中，實(shí)現(xiàn)對(duì)代碼變更的快速、連續(xù)測(cè)試，減少缺陷進(jìn)入生產(chǎn)環(huán)境的風(fēng)險(xiǎn)。

7. 智能測(cè)試管理系統(tǒng)：

   • 自主研發(fā)智能測(cè)試用例管理系統(tǒng)，實(shí)現(xiàn)對(duì)測(cè)試用例的有序歸檔、增刪改查，快速檢索和調(diào)用，確保測(cè)試工作的順暢進(jìn)行。

8. 減少人為干預(yù)：

   • 通過(guò)自動(dòng)化測(cè)試減少人為干預(yù)，降低人為錯(cuò)誤的風(fēng)險(xiǎn)，提高測(cè)試的準(zhǔn)確性和可靠性。

通過(guò)這些方法，模塊化儀器的自動(dòng)化測(cè)試不僅提高了測(cè)試效率，還確保了測(cè)試的質(zhì)量和可靠性。