OTA暗室測(cè)試的主要挑戰(zhàn)包括測(cè)試環(huán)境的搭建、設(shè)備的選擇與配置、信號(hào)的模擬與接收、以及測(cè)試結(jié)果的準(zhǔn)確性與可靠性等方面。以下是詳細(xì)介紹：

OTA暗室測(cè)試的主要挑戰(zhàn)

• 測(cè)試環(huán)境的要求：OTA測(cè)試需要在特定的微波暗室內(nèi)進(jìn)行，這對(duì)暗室的大小、靜區(qū)的性能以及吸波材料的選擇和布局都有嚴(yán)格要求。
• 設(shè)備的選擇與配置：為了確保測(cè)試結(jié)果的準(zhǔn)確性，需要選擇合適的發(fā)射天線、接收天線、信號(hào)發(fā)生器、頻譜分析儀和網(wǎng)絡(luò)分析儀等設(shè)備，并進(jìn)行精確的配置。
• 信號(hào)的模擬與接收：在OTA測(cè)試中，需要模擬真實(shí)的無(wú)線傳輸環(huán)境，這對(duì)信號(hào)發(fā)生器和接收天線的性能提出了更高的要求。
• 測(cè)試結(jié)果的準(zhǔn)確性與可靠性：由于OTA測(cè)試是在自由空間進(jìn)行的，因此測(cè)試結(jié)果的準(zhǔn)確性和可靠性受到多種因素的影響，如設(shè)備內(nèi)部的輻射干擾、產(chǎn)品結(jié)構(gòu)、天線的設(shè)計(jì)和性能等。

OTA暗室測(cè)試的解決方案

• 選擇合適的測(cè)試設(shè)備：根據(jù)測(cè)試需求選擇性能優(yōu)異的發(fā)射天線和接收天線，以及高精度頻譜分析儀和網(wǎng)絡(luò)分析儀等。
• 優(yōu)化測(cè)試環(huán)境：合理設(shè)計(jì)和布局暗室，確保靜區(qū)性能滿足測(cè)試要求，并選擇合適的吸波材料。
• 采用先進(jìn)的測(cè)試方法：如緊縮場(chǎng)測(cè)試方法等，以減小路徑損耗，提高測(cè)試系統(tǒng)的動(dòng)態(tài)范圍。

通過(guò)上述措施，可以有效應(yīng)對(duì)OTA暗室測(cè)試中的主要挑戰(zhàn)，確保測(cè)試結(jié)果的準(zhǔn)確性和可靠性。