電參數(shù)測(cè)試：參數(shù)分析儀能夠測(cè)量半導(dǎo)體器件的電流-電壓（I-V）特性、電容-電壓（C-V）特性以及其他關(guān)鍵參數(shù)，這對(duì)于評(píng)估器件的性能至關(guān)重要。例如，通過(guò)I-V測(cè)試可以確定器件的導(dǎo)通電阻、擊穿電壓等特性。
可靠性測(cè)試：參數(shù)分析儀用于測(cè)試半導(dǎo)體器件在不同溫度和偏置條件下的穩(wěn)定性，以評(píng)估其長(zhǎng)期可靠性。這包括了對(duì)器件進(jìn)行高溫反向偏置（HTGB）測(cè)試和高溫操作壽命（HTOL）測(cè)試。
動(dòng)態(tài)性能測(cè)試：參數(shù)分析儀可以對(duì)器件的動(dòng)態(tài)性能進(jìn)行測(cè)試，如頻率響應(yīng)、增益和相位特性，這對(duì)于高頻應(yīng)用尤為重要。
小信號(hào)參數(shù)測(cè)試：在設(shè)計(jì)階段，參數(shù)分析儀用于測(cè)量器件的小信號(hào)參數(shù)，如跨導(dǎo)、互導(dǎo)和極間電容等，這些參數(shù)對(duì)于模擬電路設(shè)計(jì)至關(guān)重要。
大信號(hào)測(cè)試：參數(shù)分析儀還可以進(jìn)行大信號(hào)測(cè)試，以評(píng)估器件在大電流和高電壓條件下的性能。
數(shù)據(jù)采集與分析：自動(dòng)化測(cè)試環(huán)境中，參數(shù)分析儀通常與測(cè)試機(jī)（ATE）集成，實(shí)現(xiàn)數(shù)據(jù)的自動(dòng)采集和分析，提高測(cè)試效率和準(zhǔn)確性。
故障分析：當(dāng)半導(dǎo)體器件出現(xiàn)故障時(shí)，參數(shù)分析儀可以用于故障分析，通過(guò)測(cè)量故障器件的電參數(shù)來(lái)確定故障原因。
研發(fā)與生產(chǎn)：在半導(dǎo)體研發(fā)和生產(chǎn)過(guò)程中，參數(shù)分析儀是不可或缺的工具，它不僅可以用于實(shí)驗(yàn)室研發(fā)階段的測(cè)試，也可以用于生產(chǎn)線上的快速測(cè)試。
質(zhì)量控制：參數(shù)分析儀在半導(dǎo)體制造的質(zhì)量控制環(huán)節(jié)中發(fā)揮著重要作用，通過(guò)對(duì)成品進(jìn)行測(cè)試，確保只有合格的產(chǎn)品才能進(jìn)入市場(chǎng)。
